計算(suàn)機(jī)斷層掃描系統檢測主要用于檢測高(gāo)密度和大尺寸物(wù)體，應用高(gāo)能(néng)量X射線探，需有更高(gāo)的系統分辨力等等。目前計算(suàn)機(jī)斷層掃描系統技(jì)術(shù)的應用十分廣泛；在汽車等制造領域，可以用于零部件(jiàn)的缺陷檢測、質量控制和實效分析；在電(diàn)子行業(yè)，可以用于芯片封裝多(duō)餘物(wù)檢測、封裝工(gōng)藝改進和逆向設計;在航空航天領域可用于産品質量控制、裝配工(gōng)藝分析；總之，凡是需要觀測樣品内部結構的場合都能(néng)用到(dào)計算(suàn)機(jī)斷層掃描系統，是一(yī)種十分理想的無損檢測手段。
計算(suàn)機(jī)斷層掃描系統常用的CT掃描模式有II代掃描、III代掃描。III代掃描具有更高(gāo)的效率，但是容易由于校正方法不佳而導緻環狀僞影（所以減弱或消除環狀僞影是體現CT系統制造商技(jì)術(shù)水(shuǐ)平的主要内容之一(yī)）；II代掃描效率大約是III代掃描的1/10—1/5，但其對大回轉直徑工(gōng)件(jiàn)檢測有益。此外CT系統通(tōng)常會(huì)具備數字射線檢測成像（DR）功能(néng)。
計算(suàn)機(jī)斷層掃描系統系統的核心性能(néng)指标包括：
1、空間分辨率：從(cóng)CT圖像中能(néng)夠辨别最小(xiǎo)結構細節的能(néng)力。
2、密度分辨率：從(cóng)CT圖像中能(néng)夠分辨出最小(xiǎo)密度差異的能(néng)力（通(tōng)常跟特征區域大小(xiǎo)結合在一(yī)起評定）。
空間分辨率與密度分辨率的關系。在輻射劑量一(yī)定的情況下(xià)，空間分辨率與密度分辨率是相(xiàng)互矛盾的兩個(gè)指标。提高(gāo)空間分辨率會(huì)降低(dī)密度分辨率，反之亦然。
對于普通(tōng)的計算(suàn)機(jī)斷層掃描系統系統，其核心性能(néng)指标隻有空間分辨率和密度分辨率；而對于一(yī)台高(gāo)精度測量計算(suàn)機(jī)斷層掃描系統系統而言，除了上(shàng)述兩個(gè)核心性能(néng)指标外，還(hái)有另外兩個(gè)核心性能(néng)指标：
2、幾何測量精度：在計算(suàn)機(jī)斷層掃描系統圖像上(shàng)測得某對象的幾何尺寸與該對象真實尺寸之間的絕對誤差。
2、密度測量精度：在計算(suàn)機(jī)斷層掃描系統圖像上(shàng)測得某對象的密度值與該對象真實密度值之間的相(xiàng)對誤差。
