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名稱:美國(guó)中小(xiǎo)型水(shuǐ)浸式超聲C掃描系統$n 型号:UPK-T10,UPK-T24,UPK-T36,UPK-T48,UPK-T60,UPK-T72等。$n 産地:美國(guó)$n 應用:進行高(gāo)分子材料、複合材料、構件(jiàn)内部分層、脫粘、夾雜(zá)等缺陷的無損檢測和評價。
名稱:美國(guó)大型水(shuǐ)浸超聲C掃描檢測系統$n品牌/産地:美國(guó)$n型号:T156,T240,T264,T480$n應用:進行高(gāo)分子材料、複合材料、靶材、焊縫、構件(jiàn)内部分層、脫粘、夾雜(zá)等缺陷的無損檢測和評價。
卧式光(guāng)彈系數測試儀(ANA6000P-H)是應用偏振光(guāng)幹涉原理對應力作用下(xià)能(néng)産生(shēng)人工(gōng)雙折射材料做成的力學構件(jiàn)模型進行實驗應力測試的儀器(qì),簡稱光(guāng)彈儀。應用它可以通(tōng)過模型在實驗室内進行大型建築構件(jiàn)、水(shuǐ)壩壩體、重型機(jī)械部件(jiàn)的應力和應力分布的測試,并可以在模型上(shàng)直接看(kàn)到(dào)被測件(jiàn)的全部應力分布和應力集中情況。
立式光(guāng)彈測試儀:光(guāng)彈系數測試儀(ANA6000P-V)是應用偏振光(guāng)幹涉原理對應力作用下(xià)能(néng)産生(shēng)人工(gōng)雙折射材料做成的力學構件(jiàn)模型進行實驗應力測試的儀器(qì),簡稱光(guāng)彈儀。應用它可以測試 SiC晶圓、手機(jī)膜、顯示屏、石英玻璃等器(qì)件(jiàn)内部的應力雙折射/殘餘應力,以圖像形式直觀觀察被測件(jiàn)的應力分布和應力集中情況。
FF35 CT 計算(suàn)機(jī)斷層掃描系統非常适合檢查您的中小(xiǎo)型産品:電(diàn)子元件(jiàn)如SMD,導體封裝,材料探針(如金屬,塑料,CFRP),系統,MEMS,MOEMS,療器(qì)械如空心,小(xiǎo)金屬零件(jiàn)即注塑模具,電(diàn)子設備,小(xiǎo)鑄件(jiàn)。
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