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德國(guó)超聲波掃描顯微鏡

簡要描述:名稱:德國(guó)超聲波掃描顯微鏡
型号:V-400E
産地:德國(guó)
應用:晶圓面處分層缺陷;錫球、晶圓、或填膠中的開(kāi)裂;晶圓的傾斜;各種可能(néng)之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠…等)

  • 産品型号:V 400E
  • 廠商性質:生(shēng)産廠家
  • 更新時間:2023-08-03
  • 訪  問  量:8623

詳細介紹

名稱:德國(guó)超聲波掃描顯微鏡

産品介紹:

名稱:德國(guó)超聲波掃描顯微鏡

型号:V-400E

産地:德國(guó)

應用:晶圓面處分層缺陷;錫球、晶圓、或填膠中的開(kāi)裂;晶圓的傾斜;各種可能(néng)之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠等)

 

産品應用:

聲掃顯微鏡應用領域:

  • 半導體電(diàn)子行業(yè):半導體晶圓片、封裝器(qì)件(jiàn)、大功率器(qì)件(jiàn)IGBT、紅(hóng)外器(qì)件(jiàn)、光(guāng)電(diàn)傳感器(qì)件(jiàn)、SMT貼片器(qì)件(jiàn)、MEMS等;
  • 材料行業(yè):複合材料、鍍膜、電(diàn)鍍、注塑、合金、超導材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等;
  • 生(shēng)物(wù)醫(yī)學:活體細胞動态研究、骨骼、血管的研究等

在失效分析中的應用:

  • 晶圓面處分層缺陷
  • 錫球、晶圓、或填膠中的開(kāi)裂
  • 晶圓的傾斜
  • 各種可能(néng)之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠…等)

聲掃顯微鏡的在失效分析中的優勢:

  • 非破壞性、無損檢測材料或IC芯片内部結構
  • 可分層掃描、多(duō)層掃描
  • 實施、直觀的圖像及分析
  • 缺陷的測量及缺陷面積和數量統計
  • 可顯示材料内部的三維圖像
  • 對人體是沒有傷害的
  • 可檢測各種缺陷(裂紋、分層、夾雜(zá)物(wù)、附著(zhe)物(wù)、空洞、孔洞等)

 

主要參數:

  • -該型号顯微鏡系統是實驗室、研發和工(gōng)業(yè)生(shēng)産線主流機(jī)型。
  • - 掃描速度可達:2000mm/s
  • - 與其它品牌機(jī)型相(xiàng)比掃描效率高(gāo)30%
  • - 大掃描範圍:400mm×400mm
  • - 小(xiǎo)掃描範圍:200μm×200μm
  • - 射頻大帶寬:500MHz
  • - 新型FCT防誤判探頭

 

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